原子力顯微鏡是一種高分辨的新型顯微儀器

　　原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope，簡稱AFM)是一種高分辨的新型顯微儀器，廣泛應用于各個領域，包括半導體、納米功能材料、生物、化工、醫藥等研究領域中，成為科學研究中重要的工具之一。
 

　　原子力顯微鏡的功能特點：
 

　　高分辨率：具有原子級別的識別能力，可以在多種環境下(空氣或者具有溶液的環境下)對各種材料和樣品進行納米級別的觀察與探測。
 

　　廣泛適用性：既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。
 

　　三維模擬顯示：可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示，使圖像更適合于人的直觀視覺。
 

　　粗糙度測量：可用于樣品表面微區高分辨的粗糙度測量，應用合適的數據分析軟件能得到測定區域內粗糙度各表征參數的統計結果。
 

　　原子力顯微鏡的使用方法：
 

　　1.將待測樣品放置在一個平坦的基座上，并固定好，確保樣品表面干凈、光滑以及無塵等雜質。
 

　　2.調整儀器參數，通過控制電壓和掃描速度等參數來獲得成像效果，這些參數需要根據具體實驗需求進行調節。
 

　　3.在試驗環境中建立合適的振動隔離系統，以降低外界震動對成像結果的影響。
 

　　4.選擇合適的探頭(probe)，探頭通常由硅或碳纖維制成，并且有不同形狀和尺寸可供選擇，根據所需解析度和測量目標選擇合適的探頭。
 

　　5.打開設備并啟動掃描程序，通過操縱機械臂將探針移至待測區域，并使其與樣品輕輕接觸。
 

　　6.在掃描過程中，原子力顯微鏡會記錄被測樣品表面頂部與探針間相互作用力變化情況，并轉換為圖像顯示出來。這些相互作用力包括吸引力、斥力、摩擦力等等。
 

　　7.在完成掃描之后關閉設備并保存數據，對于進一步分析或處理數據可以使用專門軟件進行操作。